[发明专利]一种金刚石辐射探测器的欧姆接触电极的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410001040.8 申请日: 2014-01-02
公开(公告)号: CN103746036A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 王林军;杨溢铭;周捷;任兵;王君楠;黄健;唐可;张继军;夏义本 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 顾勇华
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种金刚石辐射探测器的欧姆接触电极制备方法。属于金刚石辐射探测器制造工艺技术领域。本发明的要点是利用磁控溅射和离子溅射方法在金刚石薄膜上沉积制备C-Pt-Au三层体系,并在氮气气氛下退火,形成欧姆接触电极。本发明的三层C-Pt-Au欧姆电极是有较高的IV性能、较低的薄膜漏电流,其电阻率得到明显改善、使器件的性能得到提高。
搜索关键词: 一种 金刚石 辐射 探测器 欧姆 接触 电极 制备 方法
【主权项】:
一种金刚石辐射探测器的欧姆接触电极的制备方法,其特征在于具有以下的制备过程和步骤:a、非晶碳石墨层的制备采用纯碳靶,使用直流磁控溅射方法在单晶金刚石薄膜上溅射非晶碳石墨,系统的本底真空2×10‑4到5×10‑4Pa;溅射的工作气体是Ar气体, Ar的流量为10到15标准毫升/分;总气压在0.3‑0.8Pa;溅射功率一般为90‑120W;溅射时间为5‑15分钟;非晶碳石墨层厚度为5‑30nm;b、金属Pt和Au的制备采用Pt靶,通过离子溅射法在非晶碳石墨层上制备金属层Pt;溅射过程中,工作气压为0.75‑0.85Pa,离子流1.8‑2mA,溅射时间为12‑15分钟,Pt层厚度40‑60nm;溅射完成后,再采用Au靶,通过相同的工艺参数在Pt层上面溅射Au,Au层的厚度为120‑160nm;c、退火采用传统的退火工艺,将制作好的电极在氮气氛下退火;退火温度为350‑450℃,时间为10‑20分钟;最终制得金刚石薄膜上的C‑Pt‑Au三层欧姆电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学,未经上海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410001040.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top