[发明专利]智能卡测试装置在审
| 申请号： | 201410004744.0 | 申请日： | 2014-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN104765677A | 公开（公告）日： | 2015-07-08 |
| 发明（设计）人： | 安晨;王征 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种智能卡测试装置，包括：一台PC(个人电脑)机，一片C8051芯片，一片FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列）；所述PC机，采用图形化界面方式运行上位机软件；所述C8051芯片，接受所述上位机软件的指令并与FPGA通信；所述FPGA，直接受C8051芯片控制，用于调节7816接口的时钟频率和占空比，通过7816接口对智能卡进行测试。本发明能够调节7816接口的时钟频率。 | ||
| 搜索关键词： | 智能卡 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种智能卡测试装置，其特征在于，包括：一台PC机，一片C8051芯片，一片FPGA；所述PC机，采用图形化界面方式运行上位机软件；所述C8051芯片，接受所述上位机软件的指令并与FPGA通信；所述FPGA，直接受C8051芯片控制，用于调节7816接口的时钟频率和占空比，通过7816接口对智能卡进行测试。
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