[发明专利]高度量测装置及其方法有效
| 申请号： | 201410006494.4 | 申请日： | 2014-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN104720815B | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | 张耀宗;李佳宪;林百洋;钟顺麒 | 申请（专利权）人： | 纬创资通股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/107 | 分类号： | A61B5/107;G01G19/50 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提出一种高度量测装置及其方法，适用于具有反射面的环境，此高度量测方法包含沿第一光径发射第一激光至反射面。判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光。若接收到第一反射光，依据对应于第一反射光的第一数据，计算第一长度值。沿第二光径发射第二激光，第二激光被反射面反射至待测物。判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光。若接收到第二反射光，依据对应于第二反射光的第二数据，计算第二长度值。并且，至少依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。 | ||
| 搜索关键词： | 度量 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种高度量测方法，适用于具有一第一反射面的环境，该高度量测方法包含：沿一第一光径发射一第一激光；判断是否接收到对应于该第一激光的一第一反射光，其中该第一反射光是被该第一反射面所反射；若接收到该第一反射光，依据对应于该第一反射光的一第一数据，计算一第一长度值；沿一第二光径发射一第二激光；判断是否接收到对应于该第二激光的一第二反射光，其中该第二反射光是被待测物与该第一反射面所反射；若接收到该第二反射光，依据对应于该第二反射光的一第二数据，计算一第二长度值；以及至少依据该第一长度值与该第二长度值，计算该待测物的一待测物高度。
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