[发明专利]显示装置及其检查方法无效
| 申请号： | 201410009748.8 | 申请日： | 2014-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN103927963A | 公开（公告）日： | 2014-07-16 |
| 发明（设计）人： | 奧本和范 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G09G3/20 | 分类号： | G09G3/20 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及显示装置及其检查方法，其目的在于提供一种能减小半导体芯片搭载区域的尺寸的技术。显示装置具有设置了显示区域(11)和第一及第二半导体芯片搭载区域(31a、31b)的基板(1)。在第一及第二半导体芯片搭载区域(31a、31b)设置的第一及第二引出布线断线检查用TFT(351a、351b)的沟道宽度比在显示区域(11)和第一及第二半导体芯片搭载区域(31a、31b)以外设置的第一及第二检查用TFT(611a、611b)的沟道宽度小。 | ||
| 搜索关键词： | 显示装置 及其 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种显示装置，具有设置有显示区域以及半导体芯片搭载区域的基板，其特征在于，在所述显示区域设置有多个半导体开关元件、与所述多个半导体开关元件的栅极电极连接的多个栅极信号线、与所述多个半导体开关元件的源极电极连接的多个源极信号线，在所述半导体芯片搭载区域设置有与半导体芯片连接的输出端子即多个第一输出端子以及多个第二输出端子，该多个第一输出端子以及多个第二输出端子经由多个第一以及第二引出布线分别与所述多个栅极信号线以及所述多个源极信号线连接，所述显示装置具备：多个第一检查用半导体开关元件，设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域以外的所述基板上，能根据共同施加的栅极电位对向所述多个栅极信号线的检查信号的输入进行统一控制；多个第二检查用半导体开关元件，设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域以外的所述基板上，能根据共同施加的栅极电位对向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制； 多个第一引出布线断线检查用半导体开关元件，设置在所述半导体芯片搭载区域内，能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第一输出端子以及所述多个第一引出布线的向所述多个栅极信号线的检查信号的输入进行统一控制；以及多个第二引出布线断线检查用半导体开关元件，设置在所述半导体芯片搭载区域内，能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第二输出端子以及所述多个第二引出布线的向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制，各所述第一引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第一检查用半导体开关元件的沟道宽度小，各所述第二引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第二检查用半导体开关元件的沟道宽度小。
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