[发明专利]TWA测定装置和TWA测定方法有效

专利信息
申请号: 201410012507.9 申请日: 2014-01-10
公开(公告)号: CN103919546B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 高柳恒夫;贝阿彌隆 申请(专利权)人: 日本光电工业株式会社
主分类号: A61B5/0452 分类号: A61B5/0452
代理公司: 北京奉思知识产权代理有限公司11464 代理人: 吴立,邹轶鲛
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种TWA测定装置,其包括T‑波特征量测定部;分类部,其将T‑波特征量分类成奇数和偶数心电图波形组;可靠性指数计算部,其计算所述奇数和偶数组中所述T‑波特征量的第一代表值和第二代表值以及第一离散值和第二离散值;所述第一代表值与第二代表值之间的差,以获得TWA特征量;以及所述第一代表值与所述第一离散值之间的调整值和所述第二代表值与所述第二离散值之间的调整值,以获得可靠性指数;以及可靠性识别部,其识别当所述可靠性指数超过阈值时,所述TWA特征量的可靠性为高;当所述可靠性指数不超过所述阈值时,所述可靠性为低。
搜索关键词: twa 测定 装置 方法
【主权项】:
一种TWA测定装置,包括:T‑波特征量测定部,该T‑波特征量测定部配置成测定从对象获取的心电图波形的T‑波特征量;分类部,该分类部配置成将所述T‑波特征量分类成奇数心电图波形组和偶数心电图波形组;可靠性指数计算部,该可靠性指数计算部配置成:计算所述奇数心电图波形组中所述T‑波特征量的第一代表值和第一离散值,以及所述偶数心电图波形组中所述T‑波特征量的第二代表值和第二离散值;计算所述第一代表值与第二代表值之间的差,以获得TWA特征量;以及计算所述第一代表值与所述第一离散值之间的调整值,和所述第二代表值与所述第二离散值之间的调整值,以获得可靠性指数;以及可靠性识别部,该可靠性识别部配置成:当所述可靠性指数超过阈值时,识别所述TWA特征量的可靠性为高;并且当所述可靠性指数不超过所述阈值时,识别所述TWA特征量的可靠性为低,其中,所述可靠性指数计算部:当所述第一代表值大于所述第二代表值时,计算所述第一代表值与所述第一离散值之间的差,以获得第一差值,以及所述第二代表值与所述第二离散值之和,以获得第一和值;并且当所述第一代表值小于所述第二代表值时,计算所述第二代表值与所述第二离散值之间的差,以获得第一差值,以及所述第一代表值与所述第一离散值之和,以获得第一和值,并且所述可靠性指数计算部计算所述第一差值与所述第一和值之间的差,以获得所述可靠性指数。
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