[发明专利]暴露高能(111)晶面立方结构Cu2Se单晶纳米线的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410013097.X 申请日: 2014-01-10
公开(公告)号: CN103774233A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 杨合情;刘彬;赵桦 申请(专利权)人: 陕西师范大学
主分类号: C30B29/46 分类号: C30B29/46;C30B29/62;C30B7/14;B82Y40/00
代理公司: 西安永生专利代理有限责任公司 61201 代理人: 高雪霞
地址: 710062 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种暴露高能(111)晶面立方结构Cu2Se单晶纳米线的制备方法,采用简单的溶剂热法,制备出暴露高能(111)晶面且具有大的纵横比的立方相Cu2Se单晶纳米线,Cu2Se纳米线沿[-202]方向生长,纳米线的直径为142nm~1.1μm、长度为5.4~102μm。本发明操作简单,成本低,重复性和一致性好,所制备的暴露高能(111)晶面立方结构Cu2Se单晶纳米线可望在光催化、太阳能电池、超离子导体、锂离子电池和超级电容器等应用中体现增强的光电性能。
搜索关键词: 暴露 高能 111 立方 结构 cu sub se 纳米 制备 方法
【主权项】:
一种暴露高能(111)晶面立方结构Cu2Se单晶纳米线的制备方法,其特征在于:将一水合醋酸铜、Se粉、NaOH、溶剂加入聚四氟乙烯内衬中,搅拌均匀后置于反应釜中,160~220℃反应6~24小时,制备成暴露高能(111)晶面立方结构Cu2Se单晶纳米线;上述的一水合醋酸铜与Se粉、NaOH的摩尔比为1~2:1:50~70,一水合醋酸铜与溶剂的质量‑体积比1~2g:250mL,溶剂的加入量为聚四氟乙烯内衬容积的40%~60%,所述的溶剂是丙三醇与乙醇的体积比为0:1~0.67:1的混合液。
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