[发明专利]改善投射式电容触控面板边缘坐标精确度的方法及装置有效
| 申请号： | 201410015001.3 | 申请日： | 2014-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN104777948B | 公开（公告）日： | 2018-04-17 |
| 发明（设计）人： | 邱昌明;林孝义 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司11438 | 代理人： | 姜怡,阚梓瑄 |
| 地址： | 201500 上海市金山区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 公开了一种改善投射式电容触控面板边缘坐标精确度的方法及装置。该投射式电容触控面板包括M条沿一个方向排列的感测线L1、L2、……LM，其中L1和LM是边缘感测线。该方法包括获取边缘触摸点的触控感应范围所覆盖的感测线感测到的信号强度；获取虚拟感测线的虚拟坐标以及虚拟信号强度；将所述虚拟感测线的虚拟坐标和虚拟信号强度与所述边缘触摸点的触控感应范围所覆盖的感测线的坐标以及感测到的信号强度进行加权平均，获得坐标值。采用本申请实施例提供的方法及装置，能够提高投射式电容触控面板边缘坐标的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 改善 投射 电容 面板 边缘 坐标 精确度 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种改善投射式电容触控面板边缘坐标精确度的方法，该投射式电容触控面板包括M条沿一个方向排列的感测线L1、L2、……LM，其中L1和LM是边缘感测线，所述方法包括：获取边缘触摸点的触控感应范围所覆盖的感测线感测到的信号强度；获取虚拟感测线的虚拟坐标以及虚拟信号强度；将所述虚拟感测线的虚拟坐标和虚拟信号强度与所述边缘触摸点的触控感应范围所覆盖的感测线的坐标以及感测到的信号强度进行加权平均，获得坐标值；如果所述边缘触摸点位于所述感测线L1上且所述边缘触摸点的触控感应范围覆盖的感测线包括L1和L2，则所述虚拟感测线为L0，所述虚拟信号强度为R·S1‑S2，其中，S1为所述感测线L1感测到的信号强度，S2为所述感测线L2感测到的信号强度，R为校正系数，R取值为0.5～1.5。
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