[发明专利]用于执行正电子发射断层成像的方法和装置无效
| 申请号： | 201410019322.0 | 申请日： | 2014-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN103932789A | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | S.施密特 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | A61B19/00 | 分类号： | A61B19/00;A61B6/03;A61B5/055 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于执行对检查对象（102）的正电子发射断层成像的方法（1），其中在将PET示踪剂引入检查对象（102）以后所述方法（1）包括以下方法步骤：S1）执行至少一次功能性磁共振断层成像以确定至少一个可预先给定的脑区（104）的至少一个激活程度；S2）执行正电子发射断层成像；S3）根据至少一个可预先给定的脑区（104）的至少一个激活程度来适配正电子发射断层成像的结果。本发明另外还描述了一种用于执行检查对象（102）的正电子发射断层成像的装置（100）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 执行 正电子 发射 断层 成像 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于执行对检查对象（102）的正电子发射断层成像的方法（1），其中，在将正电子发射断层成像示踪剂引入检查对象（102）以后，所述方法（1）包括以下方法步骤：S1）执行至少一次功能性磁共振断层成像以确定至少一个能够预先给定的脑区（104）的至少一个激活程度；S2）执行正电子发射断层成像；S3）根据至少一个能够预先给定的脑区（104）的至少一个激活程度来适配正电子发射断层成像的结果。
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