[发明专利]一种光学材料光谱测试用低温杜瓦

摘要

本发明公开了一种光学材料光谱测试用低温杜瓦，由内外金属圆筒组成的真空密封容器，在过渡冷头上依次安装杜瓦冷头、测试样品、力学缓冲环和磁性压环组成测试样品固定结构。该结构的优点在于充分利用磁性压环与杜瓦冷头之间的磁性力，将测试样品可靠地固定在杜瓦冷头上，同时力学缓冲环可以很好地缓冲杜瓦冷头和磁性压环之间的磁性力，使杜瓦冷头和测试样品形成良好的热学和力学接触，保持测试样品处于低温，该结构安装和拆卸测试样品简单方便，避免测试样品表面污染和损伤，特别适合于水平光路条件下光学材料的低温透射光谱测试。

主权项

一种光学材料光谱测试用低温杜瓦，它包括杜瓦内筒（1）和杜瓦外筒（2），其特征在于：所述的低温杜瓦由金属材料的杜瓦内筒（1）和杜瓦外筒（2）构成真空密封容器，在测试样品（4‑3）和磁性压环（4‑2）之间夹有力学缓冲环（4‑4），测试样品（4‑3）和力学缓冲环（4‑4）通过磁性压环（4‑2）的磁力被固定在低温杜瓦的冷头（4‑1）上；测试光从杜瓦的1号窗口（5）入射，经过测试样品（4‑3）和空心的过渡冷头（3），从杜瓦的2号窗口（6）出射。