[发明专利]磁传感装置的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410027085.2 申请日: 2014-01-21
公开(公告)号: CN104793153B 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 张挺;杨鹤俊;邱鹏;王宇翔 申请(专利权)人: 上海矽睿科技有限公司
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09
代理公司: 上海金盛协力知识产权代理有限公司31242 代理人: 王松
地址: 201815 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭示了一种磁传感装置的制备方法,包括含有CMOS的基底上设有第一金属层;在第一金属层上沉积绝缘自停止层,而后沉积第一介质材料,形成通孔,沉积金属材料,图形化,光刻,形成第二金属层;沉积第二介质材料,采用化学机械抛光平坦化停在第二金属层上,同时,保留1000~5000A厚度的第二介质材料;打开通孔,沉积金属,进行光刻,引出第二金属层;形成沟槽,刻蚀时自停止在绝缘自停止层上方;沉积第三介质材料;沉积磁材料,图形化;生成磁传感器的图形,形成感应单元的磁材料层,并通过沟槽的应用形成导磁单元;沉积绝缘材料,形成绝缘材料层;打开窗口,将磁材料AMR上的电极引出,将其他电极引出。本发明便于引出金属,可提高制备效率及正品率。
搜索关键词: 传感 装置 制备 方法
【主权项】:
一种磁传感装置的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:步骤S101、含有外围电路的基底上设有第一金属层或MIM电容;步骤S102、在第一金属层上沉积绝缘自停止层,而后沉积第一介质材料,形成通孔,沉积金属材料引出第一金属层,图形化,光刻,形成金属图形,作为第二金属层;步骤S103、沉积第二介质材料,采用化学机械抛光平坦化停在第二金属层上,同时,保留1000~15000A厚度的第二介质材料;步骤S104、在第二介质材料层形成通孔,并打开通孔,沉积金属,进行光刻,引出第二金属层;步骤S105、在绝缘自停止层上方、第二金属层的一侧形成沟槽,刻蚀沟槽时自停止在绝缘自停止层上方;步骤S106、在步骤S105形成的物件上沉积第三介质材料;步骤S107、沉积磁材料,图形化;生成磁传感器的图形,形成感应单元的磁材料层,并通过沟槽的应用形成导磁单元;步骤S108、沉积绝缘材料,形成绝缘材料层;步骤S109、打开窗口,将磁材料层上的电极引出,并将其他电极引出。
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