[发明专利]采用电性异常体提取技术在火山岩体分布区中勘测地质体形态的方法有效

专利信息
申请号: 201410032071.X 申请日: 2014-01-23
公开(公告)号: CN103760613B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 黄革;顾锦才;魏众;丛远志;尚兆林;叶琪 申请(专利权)人: 中国石油化工集团公司;中国石化集团华东石油局;华东石油局第六物探大队
主分类号: G01V3/38 分类号: G01V3/38
代理公司: 南京天华专利代理有限责任公司32218 代理人: 徐冬涛
地址: 100027 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种采用电性异常体提取技术在火山岩体分布区中勘测地质体形态的方法,它包括以下步骤在待勘测的火山岩体分布区中,采用大地电磁仪获取若干实测点视电阻率曲线,构成实测点分布特征剖面图;确定测区内的基底层和上覆层分布情况;计算各实测点的背景视电阻率曲线,将沿同一测线上各实测点的背景视电阻率曲线构成背景视电阻率的数据体;从实测点视电阻率曲线中消除背景视电阻率的数据体,获得剩余视电阻率分布特征剖面图,从而得到待勘测的火山岩体分布区地质体形态图。本发明的方法已在准噶尔盆地东部的基底结构研究中进行了应用,首次采用电性异常体提取技术,在高阻石炭系地层中进行了中下石炭统的划分,能够有效克服区内火山岩的干扰。
搜索关键词: 用电 异常 提取 技术 火山岩 分布区 勘测 质体 形态 方法
【主权项】:
一种采用电性异常体提取技术在火山岩体分布区中勘测地质体形态的方法,其特征是它包括以下步骤:(1)、在待勘测的火山岩体分布区中,采用大地电磁仪获取若干实测点视电阻率曲线,将沿同一测线上各实测点的视电阻率曲线构成实测点分布特征剖面图;(2)、对各实测点的视电阻率曲线进行半定量计算,确定测区内的基底层和上覆层分布情况;(3)、计算各实测点的背景视电阻率曲线,将沿同一测线上各实测点的背景视电阻率曲线构成背景视电阻率的数据体;(4)、从实测点视电阻率曲线中消除背景视电阻率的数据体,获得剩余视电阻率分布特征剖面图,从而得到待勘测的火山岩体分布区地质体形态图;步骤(2)具体为:(a)、对各实测点的实测视电阻率曲线ρa进行积分求面积,计算前述面积的均值作为基底层电阻率ρb,单位Ω·m;(b)、计算各实测点的表层电阻率作为相应实测点的上覆层电阻率ρc,所述实测点表层电阻率是对该实测点视电阻率曲线的前3‑5个点求均值获取;(c)、采用下述公式计算各实测点的总纵向电导S,S=520/ρmin·fmin]]>其中:ρmin为该实测点视电阻率曲线的极小值,fmin是该实测点上视电阻率极小值对应的观测频率f;(d)、将沿同一测线上各实测点视电阻率曲线的首频点连成一条曲线,进行平滑处理,得到区域静校正曲线,对各实测点视电阻率曲线进行静校正处理;采用BOSTICK反演方法对静校正后的各实测点视电阻率曲线进行反演处理,得到与各实测点视电阻率曲线对应的电阻率随地层深度分布的ρbos‑D曲线,ρbos为反演得到的地层电阻率值,单位为Ω·m,D为对应的深度,单位为m;对电阻率随地层深度变化的各条分布曲线ρbos‑D进行积分求面积,计算前述面积的均值作为基底以上岩层即上覆层的平均纵向电阻率ρt,单位Ω·m;(e)、计算基底埋深H即上覆层厚度:H=Sρt,得到测区内的基底层和上覆层分布情况:即上覆层厚度H,其余为基底层。
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