[发明专利]用于进行差热分析的方法有效
| 申请号： | 201410035821.9 | 申请日： | 2014-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN103969287B | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | T·登纳;J·布卢姆;O·M·谢菲儿;M·霍勒林;T·希尔博特;A·佛里则尔;S·劳特巴赫;A·斯特劳贝尔;R·普瑞尔斯;M·吉普哈德;E·莫克赫娜;A·辛德勒;M·格拉德尔;G·赫尔;S·克奈伯;M·迈耶尔;G·凯瑟 | 申请（专利权）人： | 耐驰-仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 北京市路盛律师事务所11326 | 代理人： | 李宓 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用作进行差热分析的方法，其中设置在可调温的样品腔中的样品按照基本线性的温度曲线从起始温度（Tstart）开始一直调温到最终温度（Tend），其中由在加热过程中在多个测量时间点（t0,...ti,...tn）进行的样品温度（Tsample）测量的结果中计算出cDTA‑信号（cDTA），作为测得的样品温度（Tsample）和按温度走向模型计算的参考温度（TRef）之间的温差。按照本发明，通过以下步骤为每个时间点（ti）计算对应的参考温度（TRef(ti)）a)确定包含相关测量时间点（ti）的时间间隔；b1)在时间间隔中为测得的样品温度走向（TSample(t)）计算非线性的拟合函数，c)计算参考温度（TRef），作为测量时间点的拟合函数的值（TRef(ti)）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 进行 差热分析 方法 | ||
【主权项】：
一种用于进行差热分析的方法，其中设置在可调温的样品腔中的样品按照基本线性的温度曲线从起始温度(TStart)开始一直调温到最终温度(TEnd)，其中由在加热过程中在多个测量时间点(t0,...ti,...tn)进行的样品温度(TSample)测量的结果中计算出cDTA‑信号(cDTA)，作为测得的样品温度(TSample)和按温度走向模型计算的参考温度(TRef)之间的温差,其特征在于，通过以下步骤在每个测量时间点(ti)计算所属的参考温度(TRef(ti))：a)确定包含相关测量时间点(ti)的时间间隔，b1)在时间间隔中为测得的样品温度走向(TSample(t))计算非线性的拟合函数，c)计算参考温度(TRef(ti))，作为测量时间点的拟合函数的值，其中，在步骤b1)中在考虑处于时间间隔中的样品温度(TSample)的权重(F(t))的情况下计算拟合函数。
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