[发明专利]一种对pogopin电气性能进行测试的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410038669.X 申请日: 2014-01-26
公开(公告)号: CN103954854B 公开(公告)日: 2017-03-22
发明(设计)人: 蒋修国;谈炯尧;邓宝明 申请(专利权)人: 深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州兴森快捷电路科技有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 代理人: 唐致明
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种对pogo pin电气性能进行测试的方法及装置,本发明的装置包括上PCB夹板、下PCB夹板、pogo pin、测试设备以及用于消除上PCB夹板和下PCB夹板影响的PCB校验板,所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接,所述上PCB夹板和下PCB夹板均还与测试设备连接。本发明的装置解决了现有技术无法准确对pogo pin进行电气性能测试的问题,可以很方便地对pogo pin的电气性能参数进行测试,使我们更加准确和快速地知道pogo pin本身的电气性能,从而能使pogo pin更好应用于IC的测试。本发明可广泛应用于集成电路测试领域。
搜索关键词: 一种 pogopin 电气 性能 进行 测试 方法 装置
【主权项】:
一种对pogo pin电气性能进行测试的方法,其特征在于:包括:A、设计与上PCB夹板和下PCB夹板相对应的PCB校验板;B、对PCB校验板进行TRL校准,从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零;C、对由pogo pin、上PCB夹板和下PCB夹板组成的待测试模块进行电气性能测试,从而得到pogo pin的电气性能参数,所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接。
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