[发明专利]硅块表面质量的检测装置及检测方法无效
| 申请号： | 201410041459.6 | 申请日： | 2014-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN103759678A | 公开（公告）日： | 2014-04-30 |
| 发明（设计）人： | 谭永峰;刘华;郝刚;章金兵 | 申请（专利权）人： | 江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01J1/10 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 338000 江西省新余*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明提供一种硅块表面质量的检测装置，用于对硅块表面质量进行检测，所述硅块表面质量的检测装置包括检测器及处理器，所述检测器用于检测所述硅块表面以得到硅块表面的图像信号，所述处理器与所述检测器相互信号连接，所述处理器包括图像处理模块及计算模块，所述图像处理模块用于通过图像处理的方法取得所述检测器检测到的图像的灰度值，所述计算模块分析计算得出灰度值大于预定灰度值的区域面积，并计算得出灰度值大于预定灰度值的区域面积占所述检测器检测到的整个图像面积的比例，得到亮斑比。本发明还提供一种硅块表面质量的检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 质量 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种硅块表面质量的检测装置，用于对硅块表面质量进行检测，所述硅块表面质量的检测装置包括检测器及处理器，所述检测器用于感测所述硅块表面以得到硅块表面的图像信号，所述处理器与所述检测器相互信号连接，所述处理器包括图像处理模块及计算模块，所述图像处理模块用于通过图像处理的方法取得所述检测器检测到的图像的灰度值，所述计算模块分析计算得出灰度值大于预定灰度值的区域面积，并计算得出灰度值大于预定灰度值的区域面积占所述检测器检测到的整个图像面积的比例，得到亮斑比。
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