[发明专利]氮化镓LED制备方法、氮化镓LED和芯片有效

专利信息
申请号: 201410042037.0 申请日: 2014-01-28
公开(公告)号: CN103794687B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 蔡武;郑远志;周德保;杨东;陈向东;康建;梁旭东 申请(专利权)人: 圆融光电科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 刘芳
地址: 243000 安徽省马鞍山*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明实施例提供一种氮化镓LED制备方法、氮化镓LED和芯片,该方法包括在经过热处理的衬底上依次生长氮化镓成核层、未掺杂氮化镓层、N掺杂氮化镓层、量子阱过渡层、多量子阱层、P掺杂氮化镓层和接触层;其中,反应室在经过热处理的衬底上依次生长氮化镓成核层、未掺杂氮化镓层、N掺杂氮化镓层、量子阱过渡层、多量子阱层、P掺杂氮化镓层和接触层;其中,在开始生长N掺杂氮化镓层至结束生长多量子阱层的时间段内,进行至少一次热退火处理。能够较大程度地降低外延内应力,降低LED的蓝移,提升材料抗静电性能,并能提升量子阱的发光效率。
搜索关键词: 氮化 led 制备 方法 芯片
【主权项】:
一种氮化镓LED制备方法,其特征在于,包括:在经过热处理的衬底上依次生长氮化镓成核层、未掺杂氮化镓层、N掺杂氮化镓层、量子阱过渡层、多量子阱层、P掺杂氮化镓层和接触层;其中,在开始生长所述N掺杂氮化镓层至结束生长所述多量子阱层的时间段内,进行至少一次热退火处理;所述在开始生长所述N掺杂氮化镓层至结束生长所述多量子阱层的时间段内,进行至少一次热退火处理包括:在生长所述多量子阱层中,每次结束生长阱包覆层时进行一次所述热退火处理,其中,所述多量子阱层为按照设定周期依次生长的至少一组垒层、阱层和阱包覆层;所述热退火处理前的温度为760℃,所述热退火处理的退火温度为500℃~600℃,退火升降温速率为50℃/min~100℃/min,退火时间为3min~5min,退火的气体为氢气H2和/或氮气N2。
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