[发明专利]具备ESD保护电路的半导体装置有效

专利信息
申请号: 201410043051.2 申请日: 2014-01-29
公开(公告)号: CN103972230B 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: 片仓贵司;原田博文;广瀬嘉胤 申请(专利权)人: 艾普凌科有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 何欣亭;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供面积小的ESD保护电路。具备:一端与输入端子(11)连接的、N型阱内的P型扩散电阻(12);在与电源端子连接的N型阱与扩散电阻(12)之间的二极管(14);栅极及源极与接地端子连接、漏极与扩散电阻(12)的另一端连接的NMOS晶体管(15);以及在电源端子与接地端子之间产生的寄生二极管。
搜索关键词: 具备 esd 保护 电路 半导体 装置
【主权项】:
1.一种具备ESD保护电路的半导体装置,其特征在于,具有:P型半导体衬底;设于所述P型半导体衬底的N型阱;设于所述N型阱内的P型扩散电阻;在所述N型阱与所述P型扩散电阻之间形成的二极管;设于所述P型半导体衬底的第1 NMOS晶体管及第2 NMOS晶体管;设于所述P型半导体衬底的接地端子;以及设于所述N型阱的电源端子,所述P型扩散电阻的一端与输入端子连接,另一端与所述第1 NMOS晶体管的漏极连接,进而与内部电路连接,所述第1 NMOS晶体管的栅极及源极与所述接地端子连接,所述第2 NMOS晶体管的漏极与所述电源端子连接,所述第2 NMOS晶体管的栅极及源极与所述接地端子连接。
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