[发明专利]一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法

摘要

一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，该方法通过分析瓷质悬式绝缘子串的温度特征信息来实现劣化绝缘子的诊断。应用该方法实施诊断时需先在待检测现场采集一定数量同类型无明显异常绝缘子串的红外热像图谱，形成本检测现场该类型绝缘子串的基准温度特征信息。然后提取待诊断绝缘子串红外热像图谱中的温度特征信息与基准温度特征信息比较，有明显差异时即可以判断为缺陷绝缘子。本发明可排除环境干扰因素对绝缘子串的温度特征影响，有效提高红外热像法绝缘子缺陷诊断的正确率。本发明考虑了不同位置绝缘子温度特征的差异性，提出比较相同环境下同类设备相同位置的温度特征来实现诊断，适用于各种复杂条件下的绝缘子缺陷诊断。本发明可在现场方便应用。

主权项

一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述方法通过分析瓷质悬式绝缘子串的温度特征信息，引入数值分析理论对基于红外热像图谱的绝缘子缺陷进行诊断；所述方法的步骤为：（1）在待检测现场采集n串无明显异常绝缘子串的红外热像图谱，若待检测现场共有m串同类型瓷质悬式绝缘子串，则n满足以下条件：0.1×m<n<0.5×m，且n>2；（2）提取步骤（1）所述绝缘子串红外热像图谱中每片绝缘子钢帽处温度，按绝缘子位置保存；（3）将步骤（2）所述n串绝缘子相同位置绝缘子钢帽的温度求算术平均后得到基准温度，为该检测现场该类型绝缘子串的基准温度特征信息；（4）采集待诊断绝缘子串的红外热像图谱，然后按步骤（2）所述方法获取待诊断绝缘子串的温度，为待诊断绝缘子串特征信息；（5）将步骤（4）所述待检测绝缘子串的温度特征信息减步骤（3）所述基准温度特征信息，得到待检测绝缘子的缺陷诊断信息；所述缺陷诊断信息去除最大值和最小值后求均值乘1.2得到上阈值；所述缺陷诊断信息去除最大值和最小值后求均值乘0.8得到下阈值；（6）将步骤（5）所述待检测绝缘子的缺陷诊断信息与上下阀值比较大小；缺陷诊断信息大于上阀值信息所对应位置的绝缘子可判断为低值绝缘子；小于下阀值信息所对应位置的绝缘子可判断为零值绝缘子。