[发明专利]自动化测试设备和测试方法有效
| 申请号： | 201410053193.7 | 申请日： | 2014-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN103792485A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 董刚 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 王丹;栗若木 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种自动化测试设备和测试方法。涉及电子电器领域；解决了低温试验箱在箱门开启操作过程中保温、除湿的问题。该自动化测试设备包括：置于同一箱体内的过渡区和降温区；所述自动化测试设备的电路元器件置于所述降温区；所述过渡区的两侧各有一个活动挡门，所述过渡区通过一侧的活动挡门隔断或打开与外界环境的连通，通过另一侧的挡门隔断或打开与所述降温区的连通，两侧挡门无法同时开启；所述过渡区的温度均低于0摄氏度且高于所述降温区的温度。本发明提供的技术方案适用于集成电路芯片低温测试，实现了对待测试电路板或工装板的降温预处理。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种自动化测试设备，其特征在于，包括置于同一箱体内的过渡区和降温区；所述自动化测试设备的电路元器件置于所述降温区；所述过渡区的两侧各有一个活动挡门，所述过渡区通过一侧的活动挡门隔断或打开与外界环境的连通，通过另一侧的挡门隔断或打开与所述降温区的连通，两侧挡门无法同时开启；所述过渡区的温度均低于0摄氏度且高于所述降温区的温度。
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