[发明专利]半导体装置及半导体模块在审

专利信息
申请号: 201410053381.X 申请日: 2014-02-17
公开(公告)号: CN104465578A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 久里裕二;关谷洋纪;佐佐木遥;小谷和也;田多伸光;松村仁嗣;井口知洋 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置,上述半导体装置包括半导体元件和金属膜。上述半导体元件具有第1面以及与第1面相反的一侧的第2面。上述金属膜设置在上述半导体元件的上述第2面。上述金属膜含Cr。上述半导体元件也可以含有动作确保温度比Si的动作确保温度高的材料。
搜索关键词: 半导体 装置 模块
【主权项】:
一种半导体装置,具备:半导体元件,具有第1面以及与第1面相反的一侧的第2面;和含铬(Cr)的金属膜,设置在上述半导体元件的上述第2面。
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