[发明专利]太赫兹波检测装置、拍摄装置、成像装置以及计测装置在审
| 申请号： | 201410056240.3 | 申请日： | 2014-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN104006888A | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | 富冈纮斗 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10;G01J5/20;G01N21/3581 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 舒艳君;李洋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及抑制由电噪声导致的检测灵敏度降低的太赫兹波检测装置、拍摄装置、成像装置以及计测装置。本发明所涉及的太赫兹波检测装置（100）包括：吸收部（60），其吸收太赫兹波并产生热；和转换部（30），其将由吸收部（60）产生的热转换成电信号，吸收部（60）具有：电介质层（62）；金属构造体（64），其设置于电介质层（62）的一侧的面（62a），并且相互分离以规定长度的周期排列有多个；以及金属层（36），其设置于电介质层（62）的另一侧的面（62b），金属构造体（64）的规定长度的周期小于被吸收部（60）吸收的太赫兹波的波长。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 检测 装置 拍摄 成像 以及 | ||
【主权项】：
一种太赫兹波检测装置，其特征在于，包括：吸收部，其吸收太赫兹波并产生热；和转换部，其将由所述吸收部产生的热转换成电信号，所述吸收部具有：电介质层；金属构造体，其被设置于所述电介质层的一侧的面，并且相互分离以规定长度的周期排列有多个；以及金属层，其被设置于所述电介质层的另一侧的面，所述金属构造体的所述规定长度的周期小于被所述吸收部吸收的所述太赫兹波的波长。
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