[发明专利]用于测试电子器件的设备和方法在审
| 申请号： | 201410056529.5 | 申请日： | 2014-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN104076264A | 公开（公告）日： | 2014-10-01 |
| 发明（设计）人： | F·皮彻尔;G·简塞尔;M·霍特凯恩 | 申请（专利权）人： | 马提特斯电子系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京高文律师事务所 11359 | 代理人： | 程义贵 |
| 地址： | 德国罗森*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测试电子器件（10）的设备，所述设备包括：测试头（20），耦接到至少一个不可拆卸地安装的测试插座（8）；定位装置（4），用于将电子器件（10）定位在测试位置；以及导回件（5），装接到该定位装置（4），以支承电子器件（10）并且使电子器件（10）挤压测试插座（8）。根据本发明，用于将温度控制媒送到所述导回件（5）的温度控制系统（16，17）的供给连接端口（11、13、14、15）不可拆卸地安装在所述测试插座（8）附近，当电子器件（10）处于测试位置时，所述导回件（5）的所述温度控制系统（16、17）和所述供给连接端口（11、13、14、15）互相连通，使得所述温度控制媒从所述供给端口（11、13、14、15）流到所述导回件（5）的所述温度控制系统（16，17）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子器件 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试电子器件（10）的设备，所述设备包括：测试头（20），耦接到至少一个不可拆卸地安装的测试插座（8）；定位装置（4），用于将电子器件（10）定位在测试位置；以及导回件（5），装接到定位装置（4），以支承电子器件（10）并且使电子器件（10）挤压测试插座（8），其特征在于，用于将温度控制媒送到所述导回件（5）的温度控制系统（16，17）的供给连接端口（11、13、14、15）不可拆卸地安装在所述测试插座（8）附近，当电子器件（10）处于测试位置时，所述导回件（5）的所述温度控制系统（16、17）和所述供给连接端口（11、13、14、15）互相连通，使得所述温度控制媒从所述供给连接端口（11、13、14、15）流到所述导回件（5）的所述温度控制系统（16，17）。
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