[发明专利]带有源应变源的GeSnn沟道隧穿场效应晶体管有效
申请号: | 201410057722.0 | 申请日: | 2014-02-20 |
公开(公告)号: | CN103824885A | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 刘艳;韩根全;王洪娟 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 重庆华科专利事务所 50123 | 代理人: | 康海燕 |
地址: | 400030 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明提供一种带有源应变源的GeSnn沟道隧穿场效应晶体管(10),其结构包括GeSnn沟道、源极、漏极、源应变源、绝缘介电质薄膜和栅电极。所述源应变源(102)生长在源极区域(101),GeSnn沟道上生长绝缘介电质薄膜(105),绝缘介电质薄膜上覆盖一层栅(104)。源应变源(102)的晶格常数比源极区(101)大,形成对沟道区的应变,在yz平面内为双轴张应变,在x方向为单轴压应变。该应变有利于n沟道GeSn从间接带隙变成直接带隙,从而形成直接量子隧穿,隧穿电流增大,进而提高TFET的性能。 | ||
搜索关键词: | 有源 应变 gesnn 沟道 场效应 晶体管 | ||
【主权项】:
一种带有源应变源的GeSn n沟道隧穿场效应晶体管,其特征在于,包括:一n沟道(103),为GeSn单晶材料;一绝缘介电质薄膜(105),位于沟道上;一栅电极(104),位于所述绝缘介电质薄膜上;一源极(101)和一漏极(106),均为单晶GeSn材料;一源应变源(102),位于源极之上;其中,源应变源的晶格常数比源极的晶格常数大,形成沿沟道方向的单轴压应变,沿垂直沟道的平面内形成双轴张应变。
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