[发明专利]一种分析储层孔隙度的方法在审
| 申请号： | 201410058847.5 | 申请日： | 2014-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN104863572A | 公开（公告）日： | 2015-08-26 |
| 发明（设计）人： | 张军;李军;武清钊;苏俊磊;南泽宇;王晓畅 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | E21B47/08 | 分类号： | E21B47/08;E21B49/00 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;刘华联 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分析孔隙度的方法。该方法在建立已知储层的测井参数和岩心分析孔隙度的对应关系过程中快速识别并排除异常点，挑选能代表测井参数与岩心分析孔隙度整体趋势的特征数据快速建立较为准确的建立已知储层的测井参数和岩心分析孔隙度的对应关系，并利用该关系，通过待解释储层的测井参数来准确分析待解释储层的孔隙度。由于本发明方法每次只删除一个异常数据，不影响测井参数与岩心分析孔隙度的整体关系趋势，避免了误删数据，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分析 孔隙 方法 | ||
【主权项】：
一种分析储层孔隙度的方法，其包括：步骤A，通过测井资料获取储层的测井参数；步骤B，测量储层中n个深度的岩心分析孔隙度；步骤C，建立储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系；步骤D，利用步骤C中所建立的储层的岩心分析孔隙度与测井参数的对应关系通过测井参数来确定待解释储层的孔隙度。
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