[发明专利]聚焦离子束低千伏增强有效
申请号: | 201410066714.2 | 申请日: | 2014-02-26 |
公开(公告)号: | CN104008943B | 公开(公告)日: | 2018-02-16 |
发明(设计)人: | M.马佐斯 | 申请(专利权)人: | FEI公司 |
主分类号: | H01J37/21 | 分类号: | H01J37/21;H01J37/147;H01J37/28;H01J37/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 马红梅,胡莉莉 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种带电粒子束系统,其中,聚焦离子束柱的中间段被偏置到高负电压,该电压允许该束在比该柱的那个区段内的最终束能量更高的电势下移动。在低kV电势下,减少了色差和库仑相互作用,这使斑点尺寸产生显著改进。 | ||
搜索关键词: | 聚焦 离子束 千伏 增强 | ||
【主权项】:
一种带电粒子束系统,包括:带电粒子的源;带电粒子束聚焦柱,被配置成将所述带电粒子聚焦成带电粒子束,其中所述带电粒子束聚焦柱的中间段的组件包括被配置成跨靶体的表面扫描所述带电粒子束的扫描静电偏转器;以及电压模块,被配置成将浮动偏置电压施加到所述组件,使得所述带电粒子束在所述中间段内部比在所述表面处以更高的动能移动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410066714.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。