[发明专利]一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构及方法在审
| 申请号： | 201410076829.X | 申请日： | 2014-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN103905047A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 刘成军 | 申请（专利权）人： | 东莞博用电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/12 | 分类号： | H03M1/12 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 周详 |
| 地址： | 523808 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构及方法，其中的一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构，包括模拟信号预处理模块、若干个通道的模拟信号采样保持模块、零传输损耗模拟开关、模拟信号驱动模块及模数转换器；所述模拟信号预处理模块输出端分别连接若干个通道的模拟信号采样保持模块；所述若干个通道的模拟信号采样保持模块分别连接零传输损耗模拟开关；所述零传输损耗模拟开关的输出端连接模数转换器。本发明可以利用低速ADC，实现高速ADC的功能，实现对外界信号的完整转换。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 adc 采样 速率 电路 系统 拓扑 结构 方法 | ||
【主权项】：
一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构，其特征在于，包括模拟信号预处理模块、若干个通道的模拟信号采样保持模块、零传输损耗模拟开关、模拟信号驱动模块及模数转换器；所述模拟信号预处理模块输出端分别连接若干个通道的模拟信号采样保持模块；所述若干个通道的模拟信号采样保持模块分别连接零传输损耗模拟开关；所述零传输损耗模拟开关的输出端连接模数转换器。
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