[发明专利]一种测量LED内量子效率的方法无效
| 申请号： | 201410079018.5 | 申请日： | 2014-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN103808497A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 安平博;赵丽霞;魏学成;路红喜;王军喜;李晋闽 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于半导体照明LED检测技术领域，公开了一种测量LED内量子效率的方法，该方法包括：根据LED的几何结构，通过数值计算或者软件建模来获得LED出光效率ηLEE；将LED芯片进行不会改变出光效率的简单封装，测量LED光功率P和光谱随电流的变化关系，求出LED外量子效率ηEXE；以及根据公式ηEXE＝ηIQEηLEE计算出LED内量子效率ηIQE。该方法简单可靠，不需要复杂的数学运算，能够计算不同电流下的内量子效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 led 量子 效率 方法 | ||
【主权项】：
一种测量LED内量子效率的方法，其特征在于，该方法包括：根据LED的几何结构，通过数值计算或者软件建模来获得LED出光效率ηLEE；将LED芯片进行不会改变出光效率的简单封装，测量LED光功率P和光谱随电流的变化关系，求出LED外量子效率ηEXE；以及根据公式ηEXE＝ηIQEηLEE计算出LED内量子效率ηIQE。
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