[发明专利]面向文物亚微米级变化检测的相机三点重定位方法有效

专利信息
申请号: 201410085396.4 申请日: 2014-03-10
公开(公告)号: CN103900536A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 冯伟;孙济洲;田飞鹏;雒伟群;张屹峰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 温国林
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种面向文物亚微米级变化检测的相机三点重定位方法,可用在文物微小变化检测过程中对拍摄相机进行有效的重定位,恢复前一次拍摄时相机的位置和姿态。本发明包含两个部分,第一部分是设备的组合与改良,涉及的主要设备包含了激光测距仪,激光标线仪及相机。第二部分是针对于这种设备组合而完成相机重定位的方法,该方法首先通过调节水平来消除相机姿态6个自由度中的2个自由度,对于其余的4个自由度,利用激光测距仪和激光标线仪及墙壁上的基准点,通过记录3类基准点的方式来确定并进行相机姿态恢复,从而完成相机的重定位工作。该方法具有重定位精度高、速度快、选点约束小、适应性更广以及稳定性强等优点。
搜索关键词: 面向 文物 微米 变化 检测 相机 三点重 定位 方法
【主权项】:
一种面向文物亚微米级变化检测的相机三点重定位方法,其特征在于,所述方法包括首次定位和重定位步骤;(1)在水平激光线上选取C类基准点,在两条竖直激光线上选取A类基准点和B类基准点;(2)记录第一激光测距仪和第二激光测距仪到墙壁的距离读数分别为第一距离和第二距离,则首次定位完成;(3)通过调整使水平激光线过C类基准点;第一竖直激光线、第二竖直激光线分别过A类和B类基准点;(4)打开第一激光测距仪,旋转载物平台,使第一激光测距仪投射的激光点落在第一竖直激光线上,移动支架位置,使第一激光测距仪测距读数接近第一距离;(5)打开第二激光测距仪,旋转第二激光测距仪,使第二激光测距仪投射的激光点落在第二竖直激光线上,调节支架位置,使第二激光测距仪读数接近第二距离;(6)重复步骤(4)和(5),使得第一激光测距仪读数和第二激光测距仪读数逼近第一距离和第二距离,然后再次确认调节支架高度,使得第一激光标线仪的水平激光线过C类基准点,则重定位完成;(7)通过图像拼接算法把相机的初定位和重定位图像拼接到一起。
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