[发明专利]一种任意波形失真度的确定方法在审
| 申请号： | 201410086501.6 | 申请日： | 2014-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN103823120A | 公开（公告）日： | 2014-05-28 |
| 发明（设计）人： | 孙璟宇;王中宇;梁志国 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学;中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/00 | 分类号： | G01R29/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 成金玉 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种任意波形失真度的确定方法，实现步骤如下：（1）采样获取已知模型的任意波形；（2）采用相同的采样速率采样已知模型，并使用非线性最小二乘拟合算法搜寻“对准”实际获得的采样波形，获得“对准”的模型采样序列；（3）根据搜寻得到“对准”的模型采样序列获得被测采样序列的最优期望曲线；（4）根据获得的被测任意波形采样序列及其最优期望曲线计算得到被测任意波形的失真度。本发明具有运算量小、对测试过程要求低，即不要求精确的整周期采样等，易于实现，能够大幅提高测量的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 任意 波形 失真度 确定 方法 | ||
【主权项】：
一种任意波形失真度的确定方法，其特征在于实现步骤如下：（1）使用波形获取设备采样获得被测任意波形采样序列，所述任意波形的模型已知；（2）使用相同的采样速率采样任意波形的已知模型，并使用非线性最小二乘拟合搜寻算法，使采样获得的采样序列与实际获得的被测任意波形采样序列在时间域上“对准”，得到“对准”的模型采样序列；（3）根据搜寻得到的“对准”的模型采样序列获得被测任意波形采样序列的最优期望曲线；（4）根据获得的被测任意波形采样序列及其最优期望曲线计算得到被测任意波形的失真度。
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