[发明专利]一种测定包膜钛白中元素成分的方法

摘要

本发明提供了一种测定包膜钛白中元素成分的方法。该方法包括：选取两份多个包膜钛白样品；微波加热消解第一份得待测样品溶液，ICP-OES测定其中各元素成分含量；用粉末压片法将第二份压制为校准样片，通过XRF测得其中各元素成分的荧光强度；将所测得的荧光强度与成分含量关联，以形成每个包膜钛白样品中每种元素的校准曲线；用与所述粉末压片法相同的方法将待测包膜钛白样品压制为待测样片，通过XRF测得其中待测元素的荧光强度；根据待测元素的荧光强度，结合其校准曲线，算出待测元素的成分含量。本发明能够测定包膜钛白中锆、铝、硅、磷、铌、铁、铬、锰、铜等元素成分的含量；并具有良好的分析速度、准确度和精密度。

主权项

一种测定包膜钛白中元素成分的方法，其特征在于，所述方法包括步骤：A、选取一种预定包膜钛白生产工艺所生产得到的成分含量不同的多个包膜钛白样品，所述多个包膜钛白样品中的每个包膜钛白样品分为两份；B、采用微波加热方式消解所述每个包膜钛白样品的第一份，形成多个待测样品溶液，通过电感耦合等离子体原子发射光谱法测得所述每个待测样品溶液中各元素的成分含量；采用粉末压片法将所述每个包膜钛白样品的第二份直接压制成型以作为X射线荧光光谱法的多个校准样片，通过X射线荧光光谱法测得所述每个校准样片中各元素成分的荧光强度；C、将步骤B中X射线荧光光谱法所测得的每个包膜钛白样品的每种元素的荧光强度与步骤B中电感耦合等离子体原子发射光谱法所测得的该包膜钛白样品中该元素的成分含量进行关联，从而形成每种元素的校准曲线；D、采用与步骤B中所述的粉末压片法相同的方法将待测包膜钛白样品直接压制成型以得到待测样片，通过X射线荧光光谱法测得所述待测样片中待测元素的荧光强度，其中，所述待测包膜钛白样品为所述预定包膜钛白生产工艺所生产得到的任一批次的钛白产品；E、根据步骤D所得到的待测元素的荧光强度，结合步骤C中该元素的校准曲线，计算得出待测包膜钛白样品中该待测元素的成分含量。