[发明专利]衬底处理装置以及半导体装置的制造方法有效
申请号: | 201410092352.4 | 申请日: | 2014-03-13 |
公开(公告)号: | CN104752271B | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 广地志有;大桥直史 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立国际电气 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 陈伟,展馨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供衬底处理装置及半导体装置的制造方法。衬底处理装置具有原料气体供给系统,具有与原料气体源连接,设有原料气体供给控制部的原料气体供给管;反应气体供给系统,具有反应气体供给管和非活性气体供给管,反应气体供给管与反应气体源连接,从上游起按顺序设有反应气体供给控制部、等离子体生成部、离子捕获部;非活性气体供给管的下游端连接在反应气体供给控制部与等离子体生成部之间,上游端与非活性气体供给源连接,设有非活性气体供给控制部;处理室,收容被处理衬底,从原料气体供给系统被供给原料气体,从反应气体供给系统被供给反应气体;控制部,至少对原料气体供给控制部和反应气体供给控制部和非活性气体供给控制部进行控制。 | ||
搜索关键词: | 衬底 处理 装置 以及 半导体 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种衬底处理装置,其特征在于,具有:原料气体供给系统,其具有与原料气体源连接,并设有原料气体供给控制部的原料气体供给管;反应气体供给系统,其具有反应气体供给管和非活性气体供给管,其中,所述反应气体供给管与反应气体源连接,从上游起按顺序设有反应气体供给控制部、等离子体生成部、离子捕获部,所述非活性气体供给管,其下游端连接在所述反应气体供给控制部与所述等离子体生成部之间,并且,上游端与非活性气体供给源连接,而且设有非活性气体供给控制部;处理室,其收容被处理衬底,从所述原料气体供给系统被供给原料气体,从所述反应气体供给系统被供给反应气体;控制部,其至少对所述原料气体供给控制部和所述反应气体供给控制部和所述非活性气体供给控制部进行控制;所述控制部以进行第一处理气体供给工序和第二处理气体供给工序的方式进行控制,其中,所述第一处理气体供给工序中,在衬底存在于所述处理室内的状态下,从所述原料气体供给系统对所述处理室供给所述原料气体,并且,在使所述等离子体生成部工作的状态下从所述反应气体供给系统对所述处理室供给非活性气体,所述第二处理气体供给工序中,在衬底存在于所述处理室内的状态下,在所述第一处理气体供给工序之后,在维持所述等离子体生成部的工作以及所述非活性气体的供给的状态下,开始所述反应气体的供给。
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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