[发明专利]非接触式集成电路读取器、检测方法、检测电路及其系统有效
| 申请号： | 201410093062.1 | 申请日： | 2014-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN104050432B | 公开（公告）日： | 2018-07-06 |
| 发明（设计）人： | 金俊镐;卢衡焕;宋壹种 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06K7/00 | 分类号： | G06K7/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 曾世骁;鲁恭诚 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种非接触式集成电路读取器、检测方法、检测电路及其系统。非接触式集成电路（IC）卡读取器的检测方法包括：计算在第一转变间隔期间的至少一个第一磁脉冲的第一转变时间；计算在第二转变间隔期间的第二磁脉冲的第二转变时间。在校准阶段中计算第一转变时间，并且在检测阶段中计算第二转变时间。基于第一转变时间和第二转变时间的比较来确定非接触式IC卡在读取器的通信范围之内。 | ||
| 搜索关键词： | 非接触式集成电路 读取器 检测 间隔期间 检测电路 磁脉冲 非接触式IC卡 卡读取器 通信 | ||
【主权项】：
1.一种非接触式集成电路IC卡读取器的检测方法，所述方法包括：在校准阶段中，计算在第一转变间隔期间的至少一个第一磁脉冲的第一转变时间，其中，所述至少一个第一磁脉冲在第一转变时间期间从第一电平至参考电平之间变化；在检测阶段中，计算在第二转变间隔期间的第二磁脉冲的第二转变时间，其中，第二磁脉冲在第二转变时间期间从第二电平至参考电平之间变化；以及基于第一转变时间和第二转变时间的比较来确定非接触式IC卡是否在非接触式IC卡读取器的通信范围之内，其中，校准阶段对应于确定非接触式IC卡在非接触式IC卡读取器的通信覆盖范围之外的间隔。
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