[发明专利]用于执行目标对象的扫描的检查系统及相关方法在审

专利信息
申请号: 201410095088.X 申请日: 2014-03-14
公开(公告)号: CN104042233A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: A.苏佩斯;E.诺伊泽;N.罗特 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;G01N23/04;G06T11/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 易皎鹤;汤春龙
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开的系统和方法的实施例利用目标对象的不同位置或位姿来收集可以产生所述目标对象的高分辨率体积模型的图像。在一个实施例中,所述对象位姿限定所述目标对象相对于成像系统的部件(例如x射线束的源)的横向位置和轴向位置(又称“角取向”)。所述成像系统捕获所述目标对象处于所述对象位姿的图像。对与所述图像有关的图像数据进行进一步处理生成所述目标对象的体积模型,与这些大零件的常规扫描所产生的类似体积模型相比,所述体积模型分辨率更高或伪影更少。
搜索关键词: 用于 执行 目标 对象 扫描 检查 系统 相关 方法
【主权项】:
一种用于执行目标对象的扫描的检查系统,所述检查系统包括:扫描装置,其具有产生射束的源部件和与所述源部件间隔一段距离、接收所述射束的检测器部件;以及控制装置,其与所述扫描装置联接,所述控制装置包括处理器、联接至所述处理器的存储器和一个或多个可执行指令,所述一个或多个可执行指令存储在所述存储器中并且配置成由所述处理器执行,所述一个或多个可执行指令包括用于以下各项的指令:获取所述目标对象处于第一对象位姿的第一图像,所述第一对象位姿限定所述目标对象相对于所述扫描装置的第一横向位置和第一轴向位置;以及获取所述目标对象处于第二对象位姿的第二图像,所述第二对象位姿限定所述目标对象相对于所述扫描装置的第二横向位置和第二轴向位置,其中所述目标对象的大部分以所述第一对象位姿和所述第二对象位姿中的至少一个配合在所述射束内,并且其中所述射束的束宽小于处于所述第一横向位置和所述第二横向位置的所述目标对象的尺寸。
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