[发明专利]比特失效检测方法有效
| 申请号： | 201410098678.8 | 申请日： | 2014-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN103839589B | 公开（公告）日： | 2017-01-18 |
| 发明（设计）人： | 钱亮;孔蔚然;贾敏 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明揭示了一种比特失效检测方法。该方法包括提供一参考电流及一边界系数，将待测比特的电流跟参考电流与边界系数的乘积作比较，若所述待测比特的电流大于参考电流与边界系数的乘积，则所述比特判定为失效；其中，所述边界系数大于等于1。本方法能够提高对异常比特的检测效果，从而提高产品性能。 | ||
| 搜索关键词： | 比特 失效 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种比特失效检测方法，所述比特为弱擦除比特，且具有写入干扰现象，其特征在于，包括：提供一参考电流及一边界系数，将待测比特的电流跟参考电流与边界系数的乘积作比较，若所述待测比特的电流大于参考电流与边界系数的乘积，则所述比特判定为失效；其中，所述边界系数大于等于1，所述参考电流通过结合闪存中处于正态分布区间为(‑3σ，3σ)的比特的电流而得。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司，未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410098678.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：高温烟气余热回收装置
- 下一篇：孢子捕捉仪控制器
