[发明专利]用于测定间套作大豆冠层光谱数据的测定装置有效
| 申请号： | 201410100597.7 | 申请日： | 2014-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN103837482A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 杨峰;杨文钰;黄山;武晓玲;刘卫国;雍太文;王小春;王锐;杜俊波;刘江 | 申请（专利权）人： | 四川农业大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 魏晓波 |
| 地址： | 625014 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于测定间套作大豆冠层光谱数据的测定装置，用于遮挡间套作大豆中的高位作物并测定大豆冠层光谱数据，包括：可沿大豆生长方向伸缩的安装架；安装在安装架上，且能够随安装架移动以将高位作物与大豆隔离开并能够吸收高位作物反射光的遮挡板；用于测定大豆冠层光谱的光谱仪。工作时，将安装架安装在平行于间套作大豆行的两边，然后在安装架上安装能够遮挡高位作物的黑色遮挡板以及光谱仪。本申请中设置了能够随安装架沿大豆生长方向移动，以遮挡高位作物，实现高位作物与大豆的隔离，同时还可吸收高位作物的反射光线的遮挡板，可解决高位作物的遮挡大豆的问题及光反射对大豆光谱测定的影响，因此，有效提高了测定数据的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测定 套作 大豆 光谱 数据 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测定间套作大豆冠层光谱数据的测定装置，用于遮挡间套作大豆中的高位作物并测定大豆冠层光谱数据，其特征在于，包括：可沿大豆生长方向伸缩的安装架；安装在所述安装架上，且能够随所述安装架移动以将高位作物与大豆隔离开并能够吸收高位作物反射光的遮挡板（3）；用于测定大豆冠层光谱的光谱仪。
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