[发明专利]一种基于超像素描述的月面岩石检测方法有效
| 申请号： | 201410101324.4 | 申请日： | 2014-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN103871062A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 邢琰;刘祥;刘云;滕宝毅;林颖;龚小谨;毛晓艳;刘济林 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于超像素描述的月面岩石检测方法，首先对图像进行各项异性平滑，以消弱月壤与岩石区域内的纹理但同时很好地保留了边缘信息；进一步，将图像过分割为超像素，利用超像素描述的方法，通过检测孔洞的方法来达到检测岩石区域的目的。此方法能够较为准确的检测出岩石区域，并准确定位描述岩石的边界。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 像素 描述 岩石 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于超像素描述的月面岩石检测方法，其特征在于实现步骤如下：（1）对月面拍摄的图像进行各向异性平滑，以平滑月壤区域的纹理但同时能够很好地保留月壤与岩石的边界；（2）对平滑后的图像进行过分割，得到超像素；（3）基于超像素，提取天空区域；（4）在去除天空区域的超像素中，提取月面岩石区域。
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