[发明专利]一种X射线数字平板成像检测技术无效
申请号: | 201410102370.6 | 申请日: | 2014-03-19 |
公开(公告)号: | CN103837555A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 王建华 | 申请(专利权)人: | 烟台华科检测设备有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 264117 山东省烟*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及X射线检测设备技术领域,尤其是一种X射线数字平板成像检测技术,整套检测系统主要由平板探测器,计算机及软件组成,当X射线穿过被检测物体到达平板探测器时,平板探测器将X射线不可见光信息转换成数字信号,然后由计算机软件处理成数字图像显示,数字图像更易于存档,成本更低廉,数字图像、视频序列甚至立体数据流很容易连接到客户端,平板探测器成像快捷,更利于检测自动化,提高检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 数字 平板 成像 检测 技术 | ||
【主权项】:
一种X射线数字平板成像检测技术,整套检测系统主要由平板探测器,计算机及软件组成,其特征在于,当X射线穿过被检测物体到达平板探测器时,平板探测器将X射线不可见光信息转换成数字信号,然后由计算机软件处理成数字图像显示;所述平板探测器的中间是一个非晶硅TFT/光电二极管排列,与这个阵列紧密结合在一起的是X射线闪烁体;所述的平板探测器由一片附有薄层非晶硅的玻璃组成;所述的闪烁体是由碘化铯组成;碘化铯是一种X射线吸收体,能把X射线转化成可见光光子,然后进入光电二极管阵列;碘化铯和非晶硅这两种材料的结合产生最高的量子检测效率。
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