[发明专利]射频非对称低阻抗测试夹具有效
申请号: | 201410102906.4 | 申请日: | 2014-03-19 |
公开(公告)号: | CN103852602A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 丛密芳;李科;任建伟;李永强;杜寰 | 申请(专利权)人: | 上海联星电子有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 200120 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及射频微波测量技术领域,特别涉及一种射频非对称低阻抗测试夹具,包括:PCB板及底板。PCB板的左侧设置有第一阻抗变换单元,PCB板的右侧设置有第二阻抗变换单元。第一阻抗变换单元和第二阻抗变换单元分别由一组渐变的微带线组成,每组所述微带线中的每条微带线的宽度相同,每组微带线的长度在排列方向上按照从小到大,再从大到小的规律变化。PCB板连接在底板的上端。本发明提供的射频非对称低阻抗测试夹具,可以有效的提高待测晶体管的阻抗实部,解决振荡的源头问题,防止烧毁待测试器件,保证待测试器件射频、微波性能充分发挥。 | ||
搜索关键词: | 射频 对称 阻抗 测试 夹具 | ||
【主权项】:
一种射频非对称低阻抗测试夹具,其特征在于,包括:PCB板及底板;所述PCB板的左侧设置有第一阻抗变换单元,所述PCB板的右侧设置有第二阻抗变换单元;所述第一阻抗变换单元和所述第二阻抗变换单元分别由一组渐变的微带线组成,每组所述微带线中的每条微带线的宽度相同,每组所述微带线的长度在排列方向上按照从小到大,再从大到小的规律变化;所述PCB板上还设置有扇形电容、电源端和接地端,所述扇形电容的一个极板与所述第二阻抗变换单元及所述电源端连接,所述扇形电容的另一个极板接地,所述接地端用于接地;所述PCB板连接在所述底板的上端。
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