[发明专利]用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试电路、系统及方法在审
| 申请号： | 201410103326.7 | 申请日： | 2014-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN103837778A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 张维;邱岱;彭奇 | 申请（专利权）人： | 索尔思光电（成都）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人： | 林辉轮;王芸 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高新区西*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试光模块外壳屏蔽性能的测试电路，包括信号发生器，用于产生测试信号；驱动放大器，用于将所述信号发生器输出的测试信号放大输出；辐射天线，用于将所述驱动放大器放大输出的所述测试信号辐射出去。本发明同时公开了利用该测试电路测试光模块外壳屏蔽性能的测试系统及方法。本发明通过安装在光模块上的所述测试电路发出测试信号，再通过接收分析所述测试信号，根据该信号强度变化值与预设值的比较判断光模块外壳的屏蔽性能是否符合要求，利用本发明可有效检测光模块外壳屏蔽性能。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 模块 外壳 屏蔽 性能 电路 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试光模块外壳屏蔽性能的测试电路，其特征在于，包括：信号发生器，用于产生测试信号；驱动放大器，用于将所述信号发生器输出的测试信号放大输出；辐射天线，用于将所述驱动放大器放大输出的所述测试信号辐射出去。
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