[发明专利]光电二极管、其制作方法及图像传感器件有效
申请号: | 201410103890.9 | 申请日: | 2014-03-19 |
公开(公告)号: | CN104934491B | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
发明(设计)人: | 马燕春 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/103;H01L31/18;H01L27/146 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 吴贵明,张永明 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种光电二极管、其制作方法及图像传感器件。其中光电二极管包括N型掺杂区,形成在衬底的内部;第一P型掺杂区,形成在N型掺杂区的内部;第二P型掺杂区,形成在衬底中,位于N型掺杂区上方,且下表面与N型掺杂区相连。该制作方法包括对衬底的上表面进行掺杂形成N型掺杂预备区;对N型掺杂预备区的内部进行掺杂,形成第一P型掺杂区;对衬底的上表面进行二次掺杂,以在第一P型掺杂区的上方形成第二P型掺杂区,并形成与第二P型掺杂区下表面相连的N型掺杂区。上述光电二极管中第一P型掺杂区会在N型掺杂区中形成PN结耗尽层,进而能够提高光电二极管的光电转换效率。 | ||
搜索关键词: | 光电二极管 制作方法 图像传感器 | ||
【主权项】:
一种光电二极管,其特征在于,所述光电二极管包括:N型掺杂区,形成在衬底的内部;第一P型掺杂区,形成在所述N型掺杂区的内部;第二P型掺杂区,形成在所述衬底中,位于所述N型掺杂区上方,且下表面与所述N型掺杂区相连;所述光电二极管中,包括一个所述第一P型掺杂区时,所述第一P型掺杂区位于垂直于所述衬底表面的所述N型掺杂区的中心线上;包括多个所述第一P型掺杂区时,多个所述第一P型掺杂区对称地设置在垂直于所述衬底表面的所述N型掺杂区的中心线的两侧。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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