[发明专利]空间目标可见光散射特性分析模型校验方法在审

专利信息
申请号: 201410106801.6 申请日: 2014-03-20
公开(公告)号: CN104008268A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 魏祥泉;黄建明;颜根廷;肖余之;刘鲁江;姚建;唐洁 申请(专利权)人: 上海宇航系统工程研究所
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 冯和纯
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种空间目标可见光散射特性分析模型校验方法,试验目标先验信息与探测器参数获取;进行试验目标建模(包括几何建模和表面材料建模);空间目标可见光散射特性建模与分析;试验目标缩比模型研制;试验目标缩比模型可见光散射特性测试;试验目标可见光散射特性分析与测试结果比对与分析;空间目标可见光散射特性分析模型校验。本发明解决了由于单纯理论分析导致的空间目标可见光散射特性分析结果偏差较大的问题,通过对多个多种模型的测试与校验可以形成适用范围较广的空间目标可见光散射特性分析模型,从而为不同空间试验任务规划和可见光探测载荷的研制提供较为准确的可见光散射特性输入参数。
搜索关键词: 空间 目标 可见光 散射 特性 分析 模型 校验 方法
【主权项】:
 一种空间目标可见光散射特性分析模型校验方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,试验目标先验信息与探测器参数获取;步骤2,根据试验目标的几何参数建立试验目标的几何建模,根据试验目标表面热控材料参数建立表面材料模型;步骤3,空间目标可见光散射特性建模与分析;步骤4,试验目标缩比模型研制;步骤5,试验目标缩比模型可见光散射特性测试;步骤6,试验目标可见光散射特性分析与测试结果比对与分析;步骤7,空间目标可见光散射特性分析模型校验。
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