[发明专利]基于联合去噪和伪哈密顿量的Duffing振子弱信号检测方法有效

专利信息
申请号: 201410110813.6 申请日: 2014-03-24
公开(公告)号: CN103884421A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 张刚;王颖;张天骐;李波;王源;贺利芳 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G01H17/00 分类号: G01H17/00
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 代理人: 刘小红
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明请求保护一种利用自相关-小波阈值变换联合去噪和伪哈密顿量的变尺度Duffing振子来检测微弱周期信号的方法,该方法包括对高频工程信号进行频率/时间尺度变换,使其转换为固定角频率1rad/s的信号,从而方便了设置系统相变阈值;搭建相关与小波阈值变换的联合去噪系统,极大程度改善了信噪比,避免了待测信号初始相位和噪声对检测结果的不利影响;构造Duffing系统伪哈密顿量实时地表征系统动力学行为,解决了定量判断系统状态时计算量大,效率低的难题。理论分析及仿真结果表明,较之传统做法,检测过程更方便快速,在实际应用中具有重大意义,因此具有很好的应用前景。
搜索关键词: 基于 联合 哈密顿量 duffing 振子弱 信号 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于联合去噪和伪哈密顿量的Duffing振子弱信号检测方法,其特征在于包括以下步骤:101、对待测高频工程信号经过二次采样,即将采样频率为fs的高频工程信号信号变换为二次采样频率为fs'的低频参数信号,其中低频参数信号x(t)=s(t)+n(t),s(t)是周期信号,n(t)是均值为零的高斯白噪声;102、将步骤101中得到的低频参数信号x(t)=s(t)+n(t)通过自相关器得到输出信号的函数表达式为:Rxx(τ)=limT01T0-T0/2T0/2x(t)x(t-τ)dt=Rss(τ)+Rsn(τ)+Rns(τ)+Rnn(τ),]]>其中,T0为待测周期信号周期,τ为延迟时间,Rss(τ)和Rnn(τ)分别为周期信号与白噪声的自相关函数,Rsn(τ)为周期信号与白噪声的互相关函数,Rns(τ)为白噪声与周期信号的互相关函数,进行噪声抑制得到自相关信号x(t)',所述自相关信号x(t)'中去掉了低频参数信号的相位信息;103、对步骤102中得到的自相关信号x(t)'进行小波阈值变换,去除自相关信号x(t)'中剩余的噪声得到信号x(t)'';104、将步骤103中去噪后得到的信号x(t)''输入Duffing振子检测系统,设置Duffing振子检测系统的初始状态参数,包括Duffing振子检测系统驱动力的临界阈值N1、Duffing振子阻尼比及系统初始状态位置;105、计算步骤104中输入Duffing振子检测系统的平均伪哈密顿量APH,用T表示其大小,其中,N为动力系统的时间序列长度,i为系统的第i个状态,xi,yi表示Duffing振子在系统的第i个状态下的相图位置,设定系统伪哈密顿量门限阈值为μ,当T≥μ时,则判断系统处于大周期状态,且有信号存在;若T<μ时,则判断信号处于混沌状态,且没有信号存在。
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