[发明专利]多层导电涂层厚度的涡流检测方法和装置有效

专利信息
申请号: 201410110935.5 申请日: 2014-03-24
公开(公告)号: CN103852000A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 于亚婷;王飞;来超;张德俊;危荃 申请(专利权)人: 电子科技大学;上海航天精密机械研究所
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人: 周永宏
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种多层导电涂层厚度的涡流检测方法和装置。通过多频正弦激励信号发生模块、探头、霍尔传感器、滤波放大模块、多频信号分离模块、信号采集模块、运算模块和显示模块组成的装置,分四步的检测出多层导电涂层的厚度。本发明的可以对多层导电涂层的厚度进行检测;检测装置简单,具有很好的便携性;反演算法程序简单明了,易于实现;检测精度较高。
搜索关键词: 多层 导电 涂层 厚度 涡流 检测 方法 装置
【主权项】:
一种多层导电涂层厚度的涡流检测方法;其特征在于:包括如下步骤:第一步、测出两层导电涂层的被测件的检测信号增幅;第二步、改变上下涂层厚度,测出随厚度变化后的检测信号增幅;第三步、根据检测信号增幅,拟合出上下层磁场强度与厚度变化的直线关系,确定上层直线的斜率和截距与底层厚度的关系,用两组数据代入实测点的数值便可求解出底层厚度和总厚度的值;第四步、改变激励信号的频率,再次对被测对象进行检测,再拟合出上下层磁场强度与厚度变化的直线关系,确定上层直线的斜率和截距与底层厚度的关系,确定另一组参数,与第三步的数据求解,得出底层厚度和上层厚度的值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学;上海航天精密机械研究所,未经电子科技大学;上海航天精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410110935.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top