[发明专利]多层导电涂层厚度的涡流检测方法和装置有效
申请号: | 201410110935.5 | 申请日: | 2014-03-24 |
公开(公告)号: | CN103852000A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 于亚婷;王飞;来超;张德俊;危荃 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学;上海航天精密机械研究所 |
主分类号: | G01B7/06 | 分类号: | G01B7/06 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 周永宏 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种多层导电涂层厚度的涡流检测方法和装置。通过多频正弦激励信号发生模块、探头、霍尔传感器、滤波放大模块、多频信号分离模块、信号采集模块、运算模块和显示模块组成的装置,分四步的检测出多层导电涂层的厚度。本发明的可以对多层导电涂层的厚度进行检测;检测装置简单,具有很好的便携性;反演算法程序简单明了,易于实现;检测精度较高。 | ||
搜索关键词: | 多层 导电 涂层 厚度 涡流 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种多层导电涂层厚度的涡流检测方法;其特征在于:包括如下步骤:第一步、测出两层导电涂层的被测件的检测信号增幅;第二步、改变上下涂层厚度,测出随厚度变化后的检测信号增幅;第三步、根据检测信号增幅,拟合出上下层磁场强度与厚度变化的直线关系,确定上层直线的斜率和截距与底层厚度的关系,用两组数据代入实测点的数值便可求解出底层厚度和总厚度的值;第四步、改变激励信号的频率,再次对被测对象进行检测,再拟合出上下层磁场强度与厚度变化的直线关系,确定上层直线的斜率和截距与底层厚度的关系,确定另一组参数,与第三步的数据求解,得出底层厚度和上层厚度的值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学;上海航天精密机械研究所,未经电子科技大学;上海航天精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410110935.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。