[发明专利]一种单颗粒铀同位素比的测定方法

摘要

本发明涉及一种采用质谱法测定物质性质的方法。为解决现有分析方法不适于颗粒中铀同位素的快速分析，提高分析设备的便携性，本发明提供了一种单颗粒铀同位素比的测定方法，该方法包括如下步骤：（一）以扫描电子显微镜寻找含铀颗粒，以取样针吸附含铀颗粒，并将含铀颗粒转移至导电胶上；（二）以激光电离质谱仪作为测定设备，采用激光束扫描以寻找含铀颗粒，获得的分析数据经数据处理得到铀同位素比。综上所述，本发明的单颗粒铀同位素比的测定方法操作简单快捷、分析周期短、效率高、测定结果的精密度较好，所采用的设备价格相对低廉、体积较小、便携性好，具有较宽的适用范围和较好的经济性。

主权项

一种单颗粒铀同位素比的测定方法，其特征在于该方法包括如下步骤：（一）含铀颗粒的回收和转移以超声振荡法回收样品中的颗粒，并将颗粒转移至碳片上；采用X射线能量色散谱仪配合扫描电子显微镜在碳片上寻找含铀颗粒，找到含铀颗粒后，利用微操作系统控制取样针移动将单个含铀颗粒吸附于取样针尖端，然后将含铀颗粒转移并粘附至导电胶上；（二）含铀颗粒的定位和铀同位素比的测定将粘附有单个含铀颗粒的导电胶置于激光电离质谱仪样品腔内，调节参数，待其稳定后开始测定；测定时，采用激光束对含铀颗粒在导电胶上的大致位置进行扫描以寻找粘附在导电胶上的含铀颗粒；当激光电离质谱仪接收到含铀信号时，固定激光束位置，待接收信号稳定后，记录分析数据，经数据处理完成铀同位素比的测定。