[发明专利]单接收机太赫兹矢量场形测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了单接收机太赫兹矢量场形测量装置及其测量方法，涉及太赫兹测量的技术领域，本发明的装置包括两个信号通道，即测试通道和参考通道，在测试通道中，发射频综通过定向耦合器依次连接有倍频放大模块、待测辐射源以及能接收射频信号并混频的接收机；在参考通道中，发射频综及本振频综均通过定向耦合器另一输出端口与微波混频器连接。接收机及微波混频器的中频输出端口均与一个双通道A/D采集卡连接。本发明具有可完成太赫兹矢量场形测量且相位测量精度与双接收机方案相当、构建成本低廉、系统配置更加灵活的优点。

主权项

单接收机太赫兹矢量场形测量装置测量太赫兹矢量场形的方法，其中，单接收机太赫兹矢量场形测量装置包括发射频综(1)和本振频综(2)，其特征是：本单接收机太赫兹矢量场形测量装置还包括测试通道和参考通道，在测试通道中，所述的发射频综(1)通过定向耦合器(3)依次连接有倍频放大模块(4)、待测辐射源(5)以及能接收射频信号并混频的接收机(6)，在参考通道中，发射频综(1)和本振频综(2)均通过定向耦合器(3)的输出端口与微波混频器(7)连接，所述的微波混频器(7)的中频输出端口及接收机(6)均与采集卡(8)连接；所述的定向耦合器(3)包括有第一定向耦合器(31)和第二定向耦合器(32)，所述的第一定向耦合器(31)和第二定向耦合器(32)均包括有两个输出端口，且这两个端口分别连通测试通道以及参考通道，单接收机太赫兹矢量场形测量方法包括以下步骤：步骤一、所述的发射频综(1)与第一定向耦合器(31)连接，所述的本振频综(2)与第二定向耦合器(32)连接，将第一定向耦合器(31)和第二定向耦合器(32)的两个输出端口分别连接测试通道和参考通道，发射频综(1)发出的微波信号频率记为fRF，本振频综(2)发出的微波信号频率记为fLO；步骤二、在测量通道中，发射频综(1)输出的微波信号经倍频放大后，生成太赫兹射频信号，经接收机(6)接收并混频后，生成测试中频信号，其频率为fTEST＝m(fRF‑fLO)，其中m为测试通道的总倍频次数；步骤三、在参考通道中，发射频综和本振频综输出的信号送入微波混频器(7)中，生成参考中频信号，其频率为fIF＝fRF‑fLO；步骤四、将测试中频信号和参考中频信号送入采集卡(8)中，所述的采集卡(8)对二者进行A/D采样，得到测试通道的时域数字信号xT(t)以及参考通道的时域数字信号xR(t)；步骤五、对测试通道的时域数字信号及参考通道的时域数字信号进行软件数字信号处理，得到测试通道的幅度和相位。