[发明专利]芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法

摘要

本发明提出了一种芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法，属于大规模集成电路技术领域。该方法连接芯片中的Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路，在Sigma-delta DAC的输入端输入数字测试信号，在Sigma-delta ADC的输出端接收数字信号，通过比较输入的数字测试信号与输出的数字信号，即可判断Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路是否均正常工作。本发明芯片内同精度Sigma-delta ADC和Sigma-delta DAC的数字电路测试方法可以在一次测试中就能测试出Sigma-delta数模转换和Sigma-delta模数转换两部分数字电路的正确性，测试方法简单，测试效率高。

主权项

一种芯片内同精度Sigma‑delta模数转换部分和Sigma‑delta数模转换部分的数字电路测试方法，所述芯片还包括串行接口；所述Sigma‑delta模数转换部分包括先后连接的模拟Sigma‑delta调制器和抽样滤波器，所述Sigma‑delta数模转换部分包括先后连接的插值滤波器和数字Sigma‑delta调制器；其特征在于：包括以下步骤：（1）连接所述Sigma‑delta模数转换部分与所述Sigma‑delta数模转换部分的数字通路；（2）从所述Sigma‑delta数模转换部分的输入端输入数字测试信号，在所述Sigma‑delta模数转换部分的输出端接收输出的数字信号；（3）比较所述输入的数字测试信号与所述输出的数字信号，如果相同，则表示所述Sigma‑delta模数转换部分和所述Sigma‑delta数模转换部分的数字电路均正常工作；如果不同，则表示至少有部分数字电路工作异常。