[发明专利]用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法有效

专利信息
申请号: 201410119550.5 申请日: 2014-03-27
公开(公告)号: CN103900724B 公开(公告)日: 2017-02-01
发明(设计)人: 欧阳小平;杨冬;王杨;杨琳;朱宝强;朱健强 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法,首先将分划板安装到第一相关光束或者第二相关光束中,使其垂直于光束传输方向;然后通过角度尺测量相关光束的夹角;最后通过光电探测器检测分划板在相关信号上的投影,并计算得到时间分辨率。本发明方法对于标定脉冲的脉宽不敏感,能够在标定脉冲的脉宽接近或大于自相关仪、顶部变化平缓导致相关信号的脉冲峰值辨认困难的情况下得到具有较小误差、较高准确性的时间分辨率。
搜索关键词: 用于 相关 测量仪 时间分辨率 精密 标定 方法
【主权项】:
一种用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法,其特征在于该方法包括以下步骤:①将分划板(7)安装到第一相关光束(1)或者第二相关光束(2)中,使其垂直于光束传输方向,分划板的尺寸表示为x;②将光电探测器(10)的探测面平行于第一相关光束(1)和第二相关光束(2)的相关工作面(AO),检测分划板(7)在相关工作面上的投影y;③测量相关的第一相关光束和第二相关光束的夹角为所述的第一相关光束、第二相关光束为:任意百分比分光镜的反射光和透射光、任意百分比分光镜的反射光经过非线性晶体所产生的信号和透射光、任意百分比分光镜的反射光和透射光经过非线性晶体所产生的信号;④按下列公式计算单次自相关或互相关测量仪的时间分辨率ρ:式中,c为光速。
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