[发明专利]样本分析装置、样本分析方法及控制系统

摘要

本发明提供一种能正确获得能分析的样本数的样本分析装置。在分析采自受检者的样本时，样本分析装置的CPU根据试剂容器设置部件中放置的试剂的剩余检测数、以及在测定质控品时的试剂的消耗检测数，算出能分析的样本数并将其显示在显示输入部件。制作标准曲线时，根据试剂容器设置部件中放置的试剂的剩余检测数、在质控品测定中的试剂的消耗检测数、以及在校准品测定中的试剂的消耗检测数，算出能分析的样本数，并将其显示在显示输入部件。本发明还提供一种样本分析方法和控制系统。

主权项

一种样本分析装置，包括：试剂支撑部件，用于支撑试剂；测定部件，测定由采自受检者的受检者样本与所述试剂支撑部件支撑的试剂制备的第一测定试样，测定由不同于受检者样本的标准试样和所述试剂支撑部件支撑的试剂制备的第二测定试样；输出部件；以及控制器，能够在对数个受检者样本进行分析时控制测定部件连续测定分别由所述数个受检者样本与所述试剂制备的数个所述第一测定试样及所述第二测定试样，让所述输出部件输出所述测定部件测定所述第一测定试样获得的受检者样本的分析结果以及让所述输出部件根据制备所述第一测定试样所需要的试剂量和测定所述第二测定试样时的试剂的预定消耗量，输出能够分析的受检者样本数。