[发明专利]晶体振荡器以及振荡装置有效

专利信息
申请号: 201410120674.5 申请日: 2014-03-27
公开(公告)号: CN104079294B 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 赤池和男;小林薫 申请(专利权)人: 日本电波工业株式会社
主分类号: H03L1/02 分类号: H03L1/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张洋
地址: 日本东京涉谷区笹*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种晶体振荡器以及振荡装置。晶体振荡器包括第一晶体振子及第二晶体振子。如果将第一晶体振子及第二晶体振子的振荡输出设为f1、f2,将基准温度下的所述振荡输出的振荡频率分别设为f1r、f2r,则通过频率差检测部对{(f2f1)/f1}{(f2r f1r)/f1r}进行运算处理而获得数字值。在已进行该运算的部分的后段设置累积部和舍入处理部,所述累积部是每当输入时钟时累积所述数字值,所述舍入处理部是对所累积的数字值进行舍入处理。并且构成为,累积数与舍入量可相互独立地设定。藉此,能使得用来进行温度控制的电路规模适当。
搜索关键词: 晶体振子 舍入 晶体振荡器 振荡输出 振荡装置 累积部 电路规模 输入时钟 运算处理 振荡频率 频率差 后段 运算 检测
【主权项】:
一种晶体振荡器,其特征在于包括:用于振荡器输出的振荡电路,连接于用于振荡器输出的晶体振子;第一振荡电路及第二振荡电路,分别连接于用于温度检测的第一晶体振子及第二晶体振子;加热部,用来实现使放置所述第一晶体振子及所述第二晶体振子的环境温度固定;频率差检测部,如果将所述第一振荡电路的振荡频率设为f1,将基准温度下的所述第一振荡电路的振荡频率设为f1r,将所述第二振荡电路的振荡频率设为f2,将基准温度下的所述第二振荡电路的振荡频率设为f2r,则求出如下数字值作为温度检测值,该数字值对应于f1与f1r的差量所对应的值、和f2与f2r的差量所对应的值的差量值;累积部,根据所指定的累积数将在所述频率差检测部获得的数字值即所述温度检测值累积;舍入处理部,对在所述累积部被累积的所述温度检测值,与指定的所述累积数独立地指定舍入量,根据所指定的所述舍入量进行舍入处理;以及加热控制部,基于在所述舍入处理部被舍入处理过的所述温度检测值来控制供给到所述加热部的电力,所述用于振荡器输出的晶体振子是与所述第一晶体振子及所述第二晶体振子不同的晶体振子、或是兼用作所述第一晶体振子;所述用于振荡器输出的振荡电路是与所述第一振荡电路及所述第二振荡电路不同的振荡电路、或是兼用作所述第一振荡电路。
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