[发明专利]一种制备用于观察倒焊互连情况的制样方法无效
申请号: | 201410121087.8 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN103900880A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 黄玥;林春;王建新;储远洋;叶振华;丁瑞军 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种制备用于观察倒焊互连情况的制样方法。该方法包括固定样品、固化、切割、研磨四个步骤。该方法通过对倒焊互连样品制样,能够直观的观察互连对准情况、互连均匀性及未互连情况、互连压力与互连后间隙关系、互连后底充胶等情况。作为倒装芯片技术的有效反馈,该手段可以作为焦平面、探测器、传感器器件工艺分析的佐证。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 用于 观察 互连 情况 方法 | ||
【主权项】:
一种制备用于观察倒焊互连情况的制样方法,其特征在于包括以下步骤:1)用塑料夹具无损无压地固定待观察样品,然后将固定好的待观察样品放入合适的模具,模具是橡胶、塑料器皿、PVC管、硬纸、打印纸自卷桶或塑料瓶盖;2)将冷镶嵌料粉和冷镶嵌液按技术要求混合,尔后迅速倒入盛有待观察样品的模具中;3)等待冷镶嵌料自然固化后,取出,用内圆切片机或DISCO切割机切出一个平整的起始观察面;4)用研磨、抛光的方式将观察面处理光亮,制样完成。
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