[发明专利]非易失性存储器单元与读取的方法有效
申请号: | 201410123596.4 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN104078465B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 吴孟益;黄志豪;温岳嘉;陈沁仪;陈稐寯;陈信铭 | 申请(专利权)人: | 力旺电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/112 | 分类号: | H01L27/112;G11C17/18 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种非易失性存储器单元与读取的方法,非易失性存储器单元包含位于基材中的掺杂井、位于掺杂井上的反熔丝栅极、位于基材中的漏极、位于掺杂井上视情况需要的选择栅极、与位于掺杂井中的浅沟槽隔离。此等非易失性存储器单元结构具有非常弹性的组件安排,而能符合不同操作条件的需求。 | ||
搜索关键词: | 非易失性存储器 单元 读取 方法 | ||
【主权项】:
一种非易失性存储器单元,其特征在于,包含:一第一导电型的一基材;一第二导电型的一第一掺杂井,位于该基材中;该第一导电型的一第二掺杂井,位于该基材中;以及一反熔丝栅极,位于该第一掺杂井上,并包含:一栅极导电层,位于该第一掺杂井上;以及一栅极氧化物层,位于该栅极导电层与该第一掺杂井之间并直接接触该第一掺杂井;一第一漏极/有源极掺杂区,远离该反熔丝栅极,其中从该反熔丝栅极往该第一漏极/有源极掺杂区的一电流移动时,通过该第一掺杂井与该第二掺杂井;以及一选择栅极,其同时位于该第一掺杂井与该第二掺杂井之上,其中该反熔丝栅极与该选择栅极是分开的。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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